PHYSICAL THICKNESS ESTIMATION PROGRAM AND REFRACTION INDEX DATA ESTIMATION PROGRAM, PHYSICAL THICKNESS DATA ESTIMATION SYSTEM AND REFRACTION INDEX DATA ESTIMATION SYSTEM

• Main Authors: KIYOMITSU KAORU, TSUMURA NORIMICHI, KURITA KOKI
• Format: Patent
• Language: English; Japanese
• Published: 16.08.2018
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; PHYSICS; TESTING

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a physical thickness estimation program capable of estimating physical thickness data and a physical thickness data estimation system using the same, a refraction index data estimation program using the same and a refraction index data estimation system.SOLUTION: Disclosed refraction index data estimation program causes a computer to execute the steps of: calculating physical thickness data of a measuring object based on a piece of hologram image data; calculating phase difference data of the measuring object based on the hologram image data; and calculating refraction index data of the measuring object based on the physical thickness data and the phase difference data.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】物理厚さデータを推定することのできる物理厚さ推定プログラム、及びこれを用いた物理厚さデータ推定システム、並びに、これらを用いる屈折率データ推定プログラム、並びに、屈折率データ推定システムを提供する。【解決手段】本発明に係る屈折率データ推定プログラムは、コンピュータに、ホログラム画像データに基づき測定対象物の物理厚さデータを求めるステップ、ホログラム画像データに基づき測定対象物の位相差データを求めるステップ、前記物理厚さデータ及び前記位相差データに基づき前記測定対象物の屈折率データを求めるステップ、を実行させることを特徴とする。【選択図】 図１