STICK INSPECTION DEVICE AND STICK INSPECTION METHOD

• Main Authors: AHN NARI, YEON KIYOUNG
• Format: Patent
• Language: English; Japanese
• Published: 25.04.2016
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; PHYSICS; TESTING

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a stick inspection device and a stick inspection method which allow total inspection.SOLUTION: The stick inspection device includes: a pulling unit 110 which pulls a stick S having an opening formed thereon to fix the stick; a first inspection unit 120 disposed apart from the stick to inspect the stick; a light dispersion unit 130 which is disposed opposite to the first inspection unit with respect to the stick to reflect light emitted from the first inspection unit; a distance measurement unit 140 which is disposed opposite to the stick with respect to the light dispersion unit to measure, from the light dispersion unit, a third distance from a bottom of the stick to the light dispersion unit; and a control unit which calculates a distance difference between a second distance from a start point of a hump of the stick inspected by the first inspection unit to the light dispersion unit and the third distance to calculate a hump height and determines whether the stick is defective or not on the basis of the hump height.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】全数検査を可能とするスティック検査装置及びスティック検査方法を提供する。【解決手段】スティック検査装置は、開口部が形成されたスティックＳを引っ張って固定させる引っ張りユニット１１０と、スティックから離隔されるように配置され、スティックを検査する第１検査ユニット１２０と、スティックを基準として、第１検査ユニットと反対方向に配置され、第１検査ユニットから照射された光を反射させる光線分散ユニット１３０と、光線分散ユニットを基準として、スティックと反対方向に配置され、光線分散ユニットから、スティックの底面から光線分散ユニットまでの第３距離を測定する距離測定ユニット１４０と、第１検査ユニットで検査したスティックのハンプの開始点から光線分散ユニットまでの第２距離と第３距離との距離差を算出し、ハンプ高を算出し、ハンプ高を基に、スティックが不良か否かを判別する制御ユニットと、を含む。【選択図】図２