TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT AND TRIGGERING METHOD

• Main Authors: JED H ANDREWS, KNIERIM DANIEL G, DAVID L KELLY, MICHAEL A MARTIN, SMITH PATRICK A
• Format: Patent
• Language: English; Japanese
• Published: 16.11.2015
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

PROBLEM TO BE SOLVED: To allow for triggering on further complex conditions.SOLUTION: A test and measurement instrument, such as an oscilloscope, has an input circuit configured to receive a signal-under-test. A user inputs settings for a first trigger event and a second trigger event from a user input unit. A first trigger decoder 202 is configured to trigger on an occurrence of the first trigger event and generate a first trigger signal. A second trigger decoder 204 is configured to trigger on an occurrence of the second trigger event occurring after the first trigger event and generate a second trigger signal. An acquisition system is configured to acquire the signal-under-test in response to the first trigger signal and store the acquired signal-under-test on the basis of whether the second trigger signal validates or invalidates the first trigger signal (mode setting). 【課題】より複雑な条件に対してもトリガをかけられるようにする。【解決手段】オシロスコープなどの試験測定装置は、入力回路で被試験信号を受ける。ユーザは、ユーザ入力部から第１及び第２トリガ・イベントの設定を入力する。第１トリガ・デコーダ２０２は、第１トリガ・イベントの発生に応じてトリガをかけて、第１トリガ信号を生成する。第２トリガ・デコーダ２０４は、第１トリガ・イベントの後に発生する第２トリガ・イベントの発生に応じてトリガをかけて、第２トリガ信号を生成する。アクイジション・システムは、第１トリガ信号に応じて被試験信号を取込み、第２トリガ信号が第１トリガ信号を有効にしたか又は無効にしたか（モード設定による）に基いて、取り込まれた被試験信号を蓄積する。【選択図】図２