TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT AND TRIGGERING METHOD
PROBLEM TO BE SOLVED: To allow for triggering on further complex conditions.SOLUTION: A test and measurement instrument, such as an oscilloscope, has an input circuit configured to receive a signal-under-test. A user inputs settings for a first trigger event and a second trigger event from a user in...
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Format | Patent |
Language | English Japanese |
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16.11.2015
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Summary: | PROBLEM TO BE SOLVED: To allow for triggering on further complex conditions.SOLUTION: A test and measurement instrument, such as an oscilloscope, has an input circuit configured to receive a signal-under-test. A user inputs settings for a first trigger event and a second trigger event from a user input unit. A first trigger decoder 202 is configured to trigger on an occurrence of the first trigger event and generate a first trigger signal. A second trigger decoder 204 is configured to trigger on an occurrence of the second trigger event occurring after the first trigger event and generate a second trigger signal. An acquisition system is configured to acquire the signal-under-test in response to the first trigger signal and store the acquired signal-under-test on the basis of whether the second trigger signal validates or invalidates the first trigger signal (mode setting).
【課題】より複雑な条件に対してもトリガをかけられるようにする。【解決手段】オシロスコープなどの試験測定装置は、入力回路で被試験信号を受ける。ユーザは、ユーザ入力部から第1及び第2トリガ・イベントの設定を入力する。第1トリガ・デコーダ202は、第1トリガ・イベントの発生に応じてトリガをかけて、第1トリガ信号を生成する。第2トリガ・デコーダ204は、第1トリガ・イベントの後に発生する第2トリガ・イベントの発生に応じてトリガをかけて、第2トリガ信号を生成する。アクイジション・システムは、第1トリガ信号に応じて被試験信号を取込み、第2トリガ信号が第1トリガ信号を有効にしたか又は無効にしたか(モード設定による)に基いて、取り込まれた被試験信号を蓄積する。【選択図】図2 |
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Bibliography: | Application Number: JP20150081816 |