SEMICONDUCTOR DEVICE

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technology for facilitating the evaluation of characteristics of a nonvolatile memory module in a semiconductor device including the nonvolatile memory module.SOLUTION: An MCU 200 includes a CPU 11, a flash memory 15, and an FPCC 48 that controls the writing and er...

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Main Authors TAKE YUKIKO, ICHIGUCHI TETSUICHIRO, IZUMI SHINYA
Format Patent
LanguageEnglish
Japanese
Published 07.09.2015
Subjects
CALCULATING
COMPUTING
COUNTING
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
PHYSICS
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Summary:PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technology for facilitating the evaluation of characteristics of a nonvolatile memory module in a semiconductor device including the nonvolatile memory module.SOLUTION: An MCU 200 includes a CPU 11, a flash memory 15, and an FPCC 48 that controls the writing and erasure of the flash memory 15. The FPCC 48 executes a program for performing writing and the like to the flash memory 15 so as to perform writing and the like to the flash memory 15 according to a command issued from the CPU 11. In the MCU 200, an FCU 41 executes a test farm for evaluation of the flash memory 15. In addition, the RAM 13 can be used by both the CPU 11 and FCU 41. 【課題】不揮発性メモリモジュールを内蔵する半導体装置において、不揮発性メモリモジュールの特性の評価を容易にする技術を提供する。【解決手段】ＭＣＵ２００は、ＣＰＵ１１と、フラッシュメモリ１５と、フラッシュメモリ１５への書き込み及び消去を制御するＦＰＣＣ４８とを備える。ＦＰＣＣ４８は、フラッシュメモリ１５に対する書き込み等を行うためのプログラムを実行することで、ＣＰＵ１１から発行されるコマンドに従いフラッシュメモリ１５への書き込み等を行う。ＭＣＵ２００において、ＦＣＵ４１が、フラッシュメモリ１５を評価するためのテストファームを実行するよう構成されている。また、ＲＡＭ１３を、ＣＰＵ１１とＦＣＵ４１とが使用可能な構成としている。【選択図】図３
Bibliography:Application Number: JP20140038799