ILLUMINATION SYSTEM FOR MICROLITHOGRAPHY
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an illumination system for microlithography in which undesirable effects on other illumination parameters are avoided for specific illumination parameters.SOLUTION: A first raster array 12 has a first raster element 24 arranged on a first plane of an illumination sys...
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Format | Patent |
Language | English Japanese |
Published |
13.11.2014
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Summary: | PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an illumination system for microlithography in which undesirable effects on other illumination parameters are avoided for specific illumination parameters.SOLUTION: A first raster array 12 has a first raster element 24 arranged on a first plane of an illumination system or adjacently thereto and forming a luminous flux, and generates the raster array of a secondary light source. A transmission optical system has a second raster array 15 having a second raster element 26 forming a luminous flux by transmitting the secondary light source into an illumination field while superposing. One of the first raster elements 24 is assigned to one of the second raster elements 26, the first raster array 12 has the first raster element 24 of at least two types (I, II, III) having different luminous flux impact effect, and is assigned with at least one individual distance ( I, II, III) between the second raster elements 26 of the second raster array 15.
【課題】特定の照明パラメータに対して他の照明パラメータに対する望ましくない影響を回避するマイクロリソグラフィのための照明系を提供する。【解決手段】第1のラスタ配列12は、照明系の第1の平面又はこの平面に隣接して配置された光束を形成する第1のラスタ要素24を有し、2次光源のラスタ配列を生成する。伝達光学系は、照明視野内への2次光源を重ね合わせて伝達し、光束を形成する第2のラスタ要素26を有する第2のラスタ配列15を有する。第1のラスタ要素24のうちの1つは、第2ののラスタ要素26のうちの1つに割り当てられ、第1のラスタ配列12は、異なる光束影響効果を有する少なくとも2つのタイプ(I,II,III)の第1のラスタ要素24を有し、第2のラスタ配列15の第2のラスタ要素26との間の少なくとも1つの個別の距離(ΔI,ΔII,ΔIII)が割り当てられる。【選択図】図2 |
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Bibliography: | Application Number: JP20140114073 |