PROCEDE DE REGENERATION AUTOMATIQUE D'UN CAPTEUR CMOS SOUMIS A UN RAYON GAMMA OU BETA

L'invention concerne un procédé de régénération d'un capteur CMOS (2), soumis à un rayonnement gamma et/ou béta qui dégrade ses performances, comportant les étapes suivantes : - mesurer la consommation électrique du capteur, - si cette consommation est supérieure à un seuil prédéterminé, s...

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Main Authors ARMANI JEAN-MARC, MAINGUY JEAN-LOUIS
Format Patent
LanguageFrench
Published 23.01.2015
Subjects
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
SEMICONDUCTOR DEVICES
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Summary:L'invention concerne un procédé de régénération d'un capteur CMOS (2), soumis à un rayonnement gamma et/ou béta qui dégrade ses performances, comportant les étapes suivantes : - mesurer la consommation électrique du capteur, - si cette consommation est supérieure à un seuil prédéterminé, strictement supérieur à la consommation du courant par le capteur en dehors des périodes d'irradiation, arrêter l'alimentation du capteur CMOS et le soumettre à un chauffage afin de le régénérer.
Bibliography:Application Number: FR20130057046