Light wave phase analyzing and measuring device for e.g. active optics, has phase and amplitude grating placed near square law detector and horizontally moved by mechanical unit to vary distance between its output side and detector surface

• Main Authors: WATTELLIER BENOIT, COHEN MATHIEU
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 16.06.2006
• Subjects: COLORIMETRY; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; MEASURING; PHYSICS; RADIATION PYROMETRY; TESTING

The device has a phase and amplitude grating (3) placed at the proximity of a matrix square law detector (2) integrated to a fixed mechanical support (1), and comprising repetitive patterns reconstituting multiple replica of an incident wave. A movable mechanical unit (4) horizontally moves the grating so that an observation distance (d) between a sensitive surface (5) of the detector and an output side (6) of the grating is variable. The horizontal movement of the unit (4) is ensured by a mechanical ring (7) rotating around a main axis. Dispositif compact de large dynamique et de sensibilité ajustable pour l'analyse et la mesure de la phase d'une onde lumineuse, constitué :- d'un support mécanique 1 fixe ;- d'un détecteur quadratique matriciel 2 ;- d'un réseau de phase et d'amplitude 3 par transmission, placé à proximité immédiate du détecteur et dont les motifs répétitifs reconstituent l'onde incidente en N répliques ;- d'un élément mécanique mobile 4 entraînant le réseau en translation de façon à ce que la distance d'observation d entre la surface sensible 5 du détecteur et la face de sortie 6 du réseau soit variable ;- d'une bague mécanique 7 mobile en rotation autour de l'axe principal assurant la translation de l'élément mécanique mobile 4.Le dispositif est capable avec un réseau où N=4, de mesurer des défauts de phase de 0,6 nanomètre à 960 microns avec une précision relative d'un pour cent.