Non-contact method for measuring the thickness of a coating layer on a substrate, especially a bottle, using ultraviolet radiation transmitted towards a bottle and reflected from it for detection and analysis

• Main Authors: BOURREL MAURICE, CHABAGNO JEAN MICHEL
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 25.06.2004
• Edition: 7
• Subjects: MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; PHYSICS; TESTING

Method for non-contact measurement of the thickness of a coating on a substrate (11) has the following steps: transmission of ultraviolet radiation onto the substrate surface; detection of reflected radiation; and processing of the reflected radiation with a view to determining the thickness of the coating layer. An Independent claim is made for a non-contact measurement device for measuring the coating thickness on a substrate with a UV source, first and second optical fibers for directing light to and from a substrate surface and means for detecting and processing the reflected radiation. L'invention concerne un procédé pour la mesure sans contact de l'épaisseur d'un revêtement présent sur un substrat (11) tel qu'une bouteille, notamment, en verre, ou une plaque en métal, plastique ou céramique.Selon l'invention, le procédé comprend au moins les étapes suivantes :on envoie un rayonnement ultraviolet sur le substrat (11);on capte le rayonnement réfléchi ; eton traite le rayonnement réfléchi en vue de déterminer l'épaisseur du revêtement de substrat (11).L'invention concerne également un appareil pour la mise en oeuvre du procédé selon l'invention ainsi que l'utilisation d'un tel appareil dans une ligne de production en continu ou bien en tant qu'appareil de contrôle pour étudier l'homogénéité du revêtement sur une bouteille.