DETECTION DE DEFAUTS A BASE DE PARTICULARITES
L'invention concerne un procédé d'inspection d'un substrat configuré, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à : a. préparer une image de référence et une image de test (610); b. extraire des particularités à partir de l'image de référence et extraire des par...
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Format | Patent |
Language | French |
Published |
06.10.2000
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Edition | 7 |
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