DISPOSITIF COMPARATEUR OPTOELECTRONIQUE POUR STRUCTURES SUR SURFACES PLANES OU POUR STRUCTURES PLANES

• Main Author: ERWIN SICK
• Format: Patent
• Language: French
• Published: 20.06.1986
• Edition: 4
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRICITY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS; PRINTED CIRCUITS; SEMICONDUCTOR DEVICES; TESTING

DISPOSITIF COMPARATEUR OPTOELECTRONIQUE POUR STRUCTURES SUR SURFACES PLANES OU POUR STRUCTURES PLANES.IL COMPREND UN LASER 35 DONT LE FAISCEAU LUMINEUX UTILE EST DEDOUBLE EN DEUX FAISCEAUX PARTIELS21, 22 PAR UN DISPOSITIF DE DEPLACEMENT LATERAL DE FAISCEAU PARTIEL26, 25. CES DEUX FAISCEAUX PARTIELS21, 22 ARRIVENT OBLIQUEMENT PAR RAPPORT A L'AXE DE ROTATION20 SUR LES MIROIRS D'UN TAMBOUR A MIROIRS11. DANS LE SENS DES RAYONS REFLECHIS PAR LE TAMBOUR A MIROIRS11 SONT DISPOSES EN CROIX DEUX PREMIERS MIROIRS EN BANDE PLANS12, 13 DONT CHACUN NE RECOIT QU'UN DES FAISCEAUX PARTIELS DE SORTIE14, 15. LES FAISCEAUX PARTIELS DE SORTIE14, 15 SONT DEVIES DANS DES DIRECTIONS OPPOSEES DANS CHACUNE DESQUELLES EST DISPOSE UN DEUXIEME MIROIR EN BANDE PLAN16, 17 QUI REFLECHIT LES RAYONS EN DIRECTION DE LA SURFACE D'EXPLORATION18 EN LES RENVOYANT PARALLELEMENT AUX FAISCEAUX 14, 15 QUI PENETRENT DANS LES PREMIERS MIROIRS PLANS12, 13.APPLICATION AU CONTROLE DES PLAQUETTES A CIRCUITS IMPRIMES.