DISPOSITIF ET PROCEDE POUR L'ANALYSE DE PLUSIEURS ELEMENTS
L'INVENTION A POUR OBJET UN DISPOSITIF POUR L'ANALYSE DE PLUSIEURS ELEMENTS QUI COMPORTE, POUR LE CHOIX DE RAIES SPECTRALES DANS UN SPECTRE, DES FENTES DE SORTIE 1 DONT CHACUNE EST RELIEE A UN ELEMENT CONDUCTEUR DE LA LUMIERE 4, INTRODUIT DANS UN ELEMENT DE RECEPTION 9 SUBDIVISE EN SECTEUR...
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Format | Patent |
Language | French |
Published |
07.06.1985
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Edition | 4 |
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Summary: | L'INVENTION A POUR OBJET UN DISPOSITIF POUR L'ANALYSE DE PLUSIEURS ELEMENTS QUI COMPORTE, POUR LE CHOIX DE RAIES SPECTRALES DANS UN SPECTRE, DES FENTES DE SORTIE 1 DONT CHACUNE EST RELIEE A UN ELEMENT CONDUCTEUR DE LA LUMIERE 4, INTRODUIT DANS UN ELEMENT DE RECEPTION 9 SUBDIVISE EN SECTEURS 8 A CHACUN DESQUELS EST TOUJOURS OPPOSE UN RECEPTEUR 6 COUPLE A UN DISPOSITIF ELECTRONIQUE 13 DE TRAITEMENT, CARACTERISE EN CE QU'ENTRE L'ELEMENT DE RECEPTION 9 ET LES RECEPTEURS 6 IL COMPORTE UN MASQUE 7 MUNI AU MOINS D'UNE OUVERTURE QUI ASSOCIE OPTIQUEMENT A CHAQUE RECEPTEUR 6 DES PARTIES D'UN SECTEUR, EN CE QUE L'ELEMENT DE RECEPTION 6 PEUT SE DEPLACER PAR RAPPORT AU MASQUE 7 ET COMPORTE DES MARQUES DE CODAGE 15 QUI MARQUENT LA CORRESPONDANCE OPTIQUE ENTRE L'OUVERTURE DE RECEPTION ET LES RECEPTEURS 6, CHACUNE DE CES CORRESPONDANCES ETANT ASSOCIEE A UN PARAMETRE DE MESURE ET ENREGISTREE DANS UN MICROPROCESSEUR 32 RELIE A UN ORGANE DE MESURE ASSOCIE AUX MARQUES DE CODAGE 15 ET A DES DISPOSITIFS 18, 31 POUR UN REGLAGE DES PARAMETRES DE MESURE. |
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Bibliography: | Application Number: FR19840017595 |