Método de caracterización de materiales crepados

• Main Authors: MAKINEN, Mikko, RAUNIO, Jukka-Pekka, SKOOG, Henry
• Format: Patent
• Language: Spanish
• Published: 13.12.2021
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL; PHYSICS

Un método para caracterizar la topografía de la superficie de un material crepado, que comprende: dirigir la luz sobre una primera superficie (232) de un material (230) crepado; obtener al menos dos imágenes de una parte idéntica de la primera superficie (232) del material (230) crepado, cada imagen capturando la primera superficie (232) iluminada desde diferentes direcciones; aproximar a partir de las imágenes al menos dos vectores normales de superficie correspondientes, respectivamente, a al menos dos partes de la primera superficie (232) del material (230) crepado; convertir los al menos dos vectores normales de superficie en datos de imagen de gradiente; y analizar los datos de imagen de gradiente para caracterizar la topografía de la primera superficie (232) del material (230) crepado, en donde analizar comprende: calcular una transformada de Fourier bidimensional a partir de los datos de imagen de gradiente; y calcular un espectro de potencia bidimensional a partir de la transformada de Fourier bidimensional, en donde calcular un espectro de potencia bidimensional comprende: suavizar el espectro de potencia bidimensional, en donde suavizar el espectro de potencia bidimensional incluye: obtener un espectro de potencia filtrado bidimensional; determinar la relación entre un espectro de potencia inicial y el espectro de potencia filtrado para cada punto del espectro; comparar cada punto del espectro con un valor umbral, en donde los puntos por encima del valor umbral son un punto de marcado; estimar las ubicaciones de los picos espectrales ajustando un polinomio bidimensional de segundo orden alrededor del valor máximo de picos, en donde al menos uno de los picos espectrales corresponde al punto de marcado; y reemplazar los valores alrededor del punto de marcado con los valores del espectro de potencia en su entorno. Methods of characterizing the topography of a surface of a creped material, devices for characterizing surface topography of a creped material, computer systems for characterizing surface topography of a creped material, and the like, are disclosed.