Sistema de inspección para inspeccionar un objeto y método de inspección para el mismo

• Main Authors: QUIRION, Sébastien, MARTEL-BRISSON, Nicolas, DESCHENES, Jean-Daniel, LAMBERT, Philippe
• Format: Patent
• Language: Spanish
• Published: 10.07.2019
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; PHYSICS; TESTING

Un sistema de inspección en tres dimensiones (20) para inspeccionar una superficie exterior de un objeto (22), comprendiendo el sistema de inspección (20): al menos un proyector de luz (30) y al menos dos cámaras calibradas (40) que definen conjuntamente un campo de visión (50) del sistema de inspec...