Sistema de inspección para inspeccionar un objeto y método de inspección para el mismo

• Main Authors: QUIRION, Sébastien, MARTEL-BRISSON, Nicolas, DESCHENES, Jean-Daniel, LAMBERT, Philippe
• Format: Patent
• Language: Spanish
• Published: 10.07.2019
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; PHYSICS; TESTING

Un sistema de inspección en tres dimensiones (20) para inspeccionar una superficie exterior de un objeto (22), comprendiendo el sistema de inspección (20): al menos un proyector de luz (30) y al menos dos cámaras calibradas (40) que definen conjuntamente un campo de visión (50) del sistema de inspección (20); y un ordenador (60) conectado de manera operativa al al menos un proyector de luz (30) y a las al menos dos cámaras calibradas (40), estando configurado el ordenador (60) para: adquirir datos de objeto en tres dimensiones representativos de la superficie exterior del objeto (22) posicionado en el campo de visión (50) a través de proyección de luz sobre este por el al menos un proyector de luz (30) y la adquisición de luz de retorno mediante las al menos dos cámaras calibradas (40), relacionando los datos de objeto en tres dimensiones puntos superficiales sobre la superficie exterior del objeto (22) con uno o más puntos fuente del al menos un proyector de luz (30); generar datos de información de inspección basándose en los datos de objeto en tres dimensiones adquiridos; y proyectar los datos de información de inspección sobre al menos algunos de los puntos superficiales de la superficie exterior del objeto (22) usando los puntos fuente correspondientes del al menos un proyector de luz (30), realizándose la determinación de una imagen que ha de representarse mediante el al menos un proyector de luz (30) para proyectar los datos de información de inspección generados sobre la superficie exterior del objeto (22) sin requerir calibración adicional del al menos un proyector de luz (30). A system for inspecting an object has at least one light projector and at least one camera jointly defining a field of view and a computer operatively connected thereto. The computer is configured to acquire object data representative of the outer surface of the object through projection of light thereon by the light projector and acquisition of return light by the camera. The object data relates surface points on the outer surface of the object to one or more source point of the light projector. The computer is further configured to generate inspection information data based on the acquired object data and project the inspection information data on at least some of the surface points of the outer surface of the object using the corresponding source points of the at least one light projector. A method inspects an outer surface of an object.