Procedimiento y dispositivo de evaluación para determinar la ubicación de una estructura que se encuentra en un objeto a examinar mediante tomografía computarizada de rayos X

• Main Authors: SCHÖN, WERNER, PAPADOPOULOS, IOANNIS, MÜLLER, GUSTAV, OECKL, STEVEN, SCHNELL, HOLGER
• Format: Patent
• Language: Spanish
• Published: 23.09.2014
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL; PHYSICS

Procedimiento para determinar la ubicación de una estructura anular que se encuentra en un objeto a examinar mediante tomografía computarizada de rayos X, que comprende las etapas: - proporcionar un conjunto de datos de volumen determinado mediante tomografía computarizada de rayos X del objeto (5) a examinar, - definir varios planos de sección (S1 a Sn) a través de la estructura (20) que se encuentra en el objeto (5) y que se va a determinar con respecto a su ubicación espacial, - determinar en cada caso conjuntos de datos de intersección a partir del conjunto de datos de volumen que reproducen el objeto (5) en el respectivo plano de corte (S1), - evaluar los respectivos conjuntos de datos de intersección de la siguiente manera: - binarizar el conjunto de datos de intersección para formar un conjunto de datos binarios, - determinar los vóxeles de estructura (s) que reproducen la estructura (20) en el conjunto de datos binarios, - determinar los vóxeles de superficie (f) que reproducen una superficie de objeto del objeto (5) en el conjunto de datos binarios, - determinar un conjunto de datos de distancia (A) de modo que a cada vóxel de distancia (a) del conjunto de datos de distancia (A) se asigna un valor de distancia (w) que caracteriza la menor distancia del respectivo vóxel de distancia (a) con respecto a los vóxeles de superficie (f), - determinar los vóxeles de distancia (a) correspondientes a los vóxeles de estructura (s) en el conjunto de datos de distancia (A), y - evaluar los valores de distancia (w) de los vóxeles de distancia (a) correspondientes a los vóxeles de estructura (s). In a method and an evaluation device for determining the position of a structure located in an object to be investigated by means of X-ray computer tomography, a cutting data record, which images the object in a cutting plane, is determined from a volume data record of the object. The cutting data record is binarized to form a binary data record, in which the structure voxels imaging the structure and the surface voxels imaging an object surface are determined. To determine the position, a distance data record is produced in such a way that a distance value, which characterizes the smallest distance of the respective distance voxel from the surface voxels, is assigned to each distance voxel of the distance data record. The distance voxels corresponding to the structure voxels are then determined and the associated distance values evaluated.