METHOD FOR CHECKING INTEGRITY OF RELOADABLE FUNCTIONAL UNITS

• Main Authors: Cech, Christian, Fischer, Bernhard, Matschnig, Martin, Djavan, Joubin, Hinterstoisser, Thomas
• Format: Patent
• Language: English; French; German
• Published: 20.04.2022
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING; PHYSICS

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Integritätsprüfung von Funktionseinheiten (HWAA1, HWAA2), welche während einer Laufzeit des elektronischen Bauteils (BE) in einen dynamisch rekonfigurierbaren Bereich (DPR) des elektronischen Bauteils (BE) nachgeladen werden können. Das elektronische Bauteil (BE), welches als programmierbare, logische Schaltung ausgeführt ist, weist neben einem statischen Bereich (SBE) zumindest einen dynamisch rekonfigurierbaren Bereich (DPR) auf. Die nachladbaren Funktionseinheiten (HWAA1, HWAA2) weisen vordefinierte Schnittstellen auf, welche mit entsprechenden Schnittstellen (IIF, OIF) jener Teilbereiche (C1, C2) des dynamisch rekonfigurierbaren Bereichs (DPR) zusammenpassen, in welche die nachladbaren Funktionseinheiten (HWAA1, HWAA2) geladen werden können. Für jede nachladbare Funktionseinheit (HWAA1) wird in einem vorgegebenen Teilbereich (Ct) des dynamisch rekonfigurierbaren Bereichs (DPR) eine zugehörige Zwillingsfunktionseinheit (HWAAT) konfiguriert (101). Eine nachladbare Funktionseinheit (HWAA1) wird in einen vorgegebenen Teilbereich (C1, C2) des dynamisch rekonfigurierbaren Bereichs (DPR) geladen (102), mit identen Eingangsdaten (IN) wie die zugehörige Zwillingsfunktionseinheit (HWAAT) versorgt und parallel zu dieser ausgeführt (103). Die Ausgangsdaten (O_HWAA1, O_HWAAT) der nachgeladenen Funktionseinheit (HWAA1) und der zugehörigen Zwillingsfunktionseinheit (HWAAT) werden verglichen (104) und die nachgeladene Funktionseinheit (HWAA1) freigegeben (105), wenn eine Übereinstimmung der Ausgangsdaten (O_HWAA1, O_HWAAT) der nachgeladenen Funktionseinheit (HWAA1) und der zugehörigen Zwillingsfunktionseinheit (HWAAT) festgestellt wird. A method for checking the integrity of functional units that are reloadable during runtime of an electronic component in a dynamically reconfigurable region of the electronic component, wherein the electronic component, which is formed as a programmable logic circuit, has, in addition to a static region, a dynamically reconfigurable region and the reloadable functional units have predefined interfaces, where an associated twin functional unit is configured in a specified subregion of the dynamically reconfigurable region for each reloadable functional unit, a reloadable functional unit is loaded into a specified subregion of the dynamically reconfigurable region, supplied with identical input data to the associated twin functional unit, and executed in parallel with the twin functional unit, and where output data of the reloaded functional unit and associated twin functional unit are compared and the reloaded functional unit is enabled if a match between the two output data is found.