DEVICE AND METHOD FOR DEPOSITING A LAYER OF SEMICONDUCTOR MATERIAL ON A SUBSTRATE WAFER
Vorrichtung zum Abscheiden einer Schicht aus Halbleitermaterial auf einer Substratscheibe, umfassendeinen Grundring zwischen einer oberen und einer unteren Kuppel; einen Suszeptor als Träger der Substratscheibe während des Abscheidens der Schicht;einen Gaseinlass und einen Gasauslass, eine Abgasleit...
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Format | Patent |
Language | English French German |
Published |
16.02.2022
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Summary: | Vorrichtung zum Abscheiden einer Schicht aus Halbleitermaterial auf einer Substratscheibe, umfassendeinen Grundring zwischen einer oberen und einer unteren Kuppel; einen Suszeptor als Träger der Substratscheibe während des Abscheidens der Schicht;einen Gaseinlass und einen Gasauslass, eine Abgasleitung sowie Gaszuleitungen zum Leiten von Prozessgas über eine obere Seitenfläche der Substratscheibe;ein Schlitzventil-Tunnel und eine Schlitzventil-Türe; undeine Hub- und Rotationseinrichtung zum Heben und Drehen des Suszeptors und der Substratscheibe,dadurch gekennzeichnet, dass ein oder mehrere Bestandteile der Vorrichtung, die aus Edelstahl bestehen von einer amorphen Schicht bedeckt sind, die Silizium und Wasserstoff enthält.
An apparatus for depositing a layer of semiconductor material on a substrate wafer. The apparatus includes a base ring between an upper and a lower dome, a susceptor as carrier of the substrate wafer during the deposition of the layer, a gas inlet and a gas outlet, an outgoing gas line and gas supply lines for passing process gas over an upper side face of the substrate wafer, a slit valve tunnel and a slit valve door, and a lifting and rotating unit for lifting and turning the susceptor and the substrate wafer. The apparatus also including an amorphous layer including silicon and hydrogen disposed over one or more stainless steel components of the apparatus. |
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Bibliography: | Application Number: EP20200191166 |