Verfahren zum Nachweis von organischen Verbindungen auf Oberflächen beim Menschen

Die Erfindung betrifft den Nachweis von organischen Substanzen, insbesondere von Rohstoffen aus kosmetischen Zubereitungen, auf Haut und Haaren mittels Time of Flight Secondary Ion Spectrometry (ToF-SIMS-Methode).

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Main Authors HEBERT, HEKTOR, GLAUDER, JAN
Format Patent
LanguageGerman
Published 25.01.2001
Edition7
Subjects
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
ELECTRICITY
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Summary:Die Erfindung betrifft den Nachweis von organischen Substanzen, insbesondere von Rohstoffen aus kosmetischen Zubereitungen, auf Haut und Haaren mittels Time of Flight Secondary Ion Spectrometry (ToF-SIMS-Methode).
Bibliography:Application Number: DE1999134242