Tochterionenspektren mit Flugzeitmassenspektrometern

Die Erfindung betrifft Verfahren und Gerät zur Messung von Tochterionenspektren (auch Fragmentionenspektren oder MS/MS-Spektren genannt) in Flugzeitmassenspektrometern. Die Erfindung besteht darin, die Ionen einer Ionenquelle zunächst nur auf eine geringe Energie zu beschleunigen und sie auf dieser...

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Main Authors HOLLE, ARMIN, FRANZEN, JOCHEN, KOESTER, CLAUS
Format Patent
LanguageGerman
Published 14.12.2000
Edition7
Subjects
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
ELECTRICITY
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Summary:Die Erfindung betrifft Verfahren und Gerät zur Messung von Tochterionenspektren (auch Fragmentionenspektren oder MS/MS-Spektren genannt) in Flugzeitmassenspektrometern. Die Erfindung besteht darin, die Ionen einer Ionenquelle zunächst nur auf eine geringe Energie zu beschleunigen und sie auf dieser Energiestufe durch metastabilen Zerfall oder durch Stoßfragmentierung zerfallen zu lassen, sodann aber auf eine hohe Energie nachzubeschleunigen, wobei leichte Fragmentionen eine höhere Geschwindigkeit erhalten als schwerere Fragmentionen oder unzerfallene Elternionen. Ein Ionenselektor auf der niedrigen Energiestufe sucht eine einzige Elternionensorte aus, um Überlagerungen mit Fragmentionen anderer Elternionen zu vermeiden. Eine besonders bevorzugte Ausführungsform hebt das Potential fliegender Ionen in einer kleinen Flugstrecke während des Durchfliegens an.
Bibliography:Application Number: DE1998156014