Automatische Analysevorrichtung und automatisches Analyseverfahren

Hinsichtlich der Beförderung von Probenbehältern in einer automatischen Analysevorrichtung wird eine Technik vorgeschlagen, mit der Probenbehälter mit Proben mit einem hohen Grad an Dringlichkeit, die bevorzugt analysiert werden sollen, in kurzer Zeit zu einer Probenabgabeposition gebracht werden. Z...

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Main Authors KAWAHARA, TETSUJI, WADA, KENTARO, KOMATSU, HIDENOBU, KAMBARA, KATSUHIRO
Format Patent
LanguageGerman
Published 31.05.2012
Subjects
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
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Summary:Hinsichtlich der Beförderung von Probenbehältern in einer automatischen Analysevorrichtung wird eine Technik vorgeschlagen, mit der Probenbehälter mit Proben mit einem hohen Grad an Dringlichkeit, die bevorzugt analysiert werden sollen, in kurzer Zeit zu einer Probenabgabeposition gebracht werden. Zwischen einem Gestell-Fördermodul (4) und einem Gestell-Fördermodul (5) zum Befördern von Gestellen (2), auf denen Probenbehälter (1) angeordnet sind, ist eine Gestell-Puffereinheit (8) vorgesehen, die als Probenbehälter-Austauscheinheit dient. Es ist auch ein Lademodul (7) für dringende Proben vorgesehen, auf dem ein Gestell (2) angeordnet wird, in dem sich ein Probenbehälter (1) befindet, der eine Probe enthält, die bevorzugt zu analysieren ist. Das Gestell (2), das bevorzugt zu analysieren ist, wird von der Gestell-Puffereinheit (8) gegen das Gestell (2) ausgetauscht, das sich im Prozeß der Probenabgabe befindet, so daß der Probenbehälter (1) am Gestell (2), der bevorzugt zu analysieren ist, in kurzer Zeit zur Probenabgabeposition gebracht wird.
Bibliography:Application Number: DE20101100822T