Spektroskopieverfahren

Bei einem Spektroskopieverfahren wird in einer Spektroskopievorrichtung zumindest eine Probe zur Ermittlung einer Testspektrallinie/-spektrum wenigstens eines in der Probe enthaltenen Bestandteils angeregt und die transmittierten und/oder emittierten elektromagnetischen Strahlen werden über ein opti...

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Main Authors WANG, YONGDONG, RADZIUK, BERNHARD, TRACY, DAVID H
Format Patent
LanguageGerman
Published 18.09.2003
Edition7
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Summary:Bei einem Spektroskopieverfahren wird in einer Spektroskopievorrichtung zumindest eine Probe zur Ermittlung einer Testspektrallinie/-spektrum wenigstens eines in der Probe enthaltenen Bestandteils angeregt und die transmittierten und/oder emittierten elektromagnetischen Strahlen werden über ein optisches System mit gegebenenfalls einem Spektrometer an eine Detektoreinrichtung zur Erfassung der Testspektrallinie/-spektrum zugeführt. DOLLAR A Um ein solches Spektroskopieverfahren dahingehend zu verbessern, dass Variationen bestimmter Parameter, die die Form und/oder Auftreten einer Spektrallinie ändern, kompensiert werden, so dass unabhängig von Änderungen dieser Parameter eine ideale Testspektrallinie erhalten wird, wird neben der Testspektrallinie/-spektrum unter im Wesentlichen denselben Parametern wie Temperatur, Druck oder dergleichen für ein insbesondere bekanntes Vergleichsmaterial eine Spektrallinie/-spektrum und eine diese in eine im Hinblick auf vorgegebene Standardwerte der Parameter korrigierte Idealvergleichsspektrallinie/-spektrum umsetzende Transferfunktion ermittelt und diese auf die Testspektrallinie/-spektrum angewandt.
Bibliography:Application Number: DE2002107733