Verfahren zur Nickwinkelfehler- und zur Gierwinkelfehlerkompensation bei einer Geländehöhenmessung mit einem LiDAR-Sensorsystem
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Nickwinkelfehler- und Gierwinkelfehlerkompensation bei einer Geländehöhenmessung mit einem LiDAR-Sensorsystem mit nachfolgenden Verfahrensschritten:a) Mittels einer korrigierten Pose χk-1wird eine neue Pose χk|k-1prognostiziert, wobei aus der prognost...
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Format | Patent |
Language | German |
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29.02.2024
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Summary: | Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Nickwinkelfehler- und Gierwinkelfehlerkompensation bei einer Geländehöhenmessung mit einem LiDAR-Sensorsystem mit nachfolgenden Verfahrensschritten:a) Mittels einer korrigierten Pose χk-1wird eine neue Pose χk|k-1prognostiziert, wobei aus der prognostizierten Pose χk|k-1und einer Höhenkarte mider Umgebung eine mindestens drei (n) geschätzte LiDAR-Messwerte umfassende prognostizierte Reichweiteninformation h berechnet,b) es wird eine mithilfe des LiDAR-Sensorsystems gemessenen Werten und mit n korrespondierenden gemessenen LiDAR-Messwerten verknüpfte Reichweiteninformation z gebildet, wobei sowohl die prognostizierte Reichweiteninformation h als auch eine gemessene Reichweiteninformation z einen gleichen konstanten Winkelabstand aus Δφ aufweisen;c) aus der prognostizierten Reichweiteninformation h und der gemessenen Reichweiteninformation z wird eine Verschiebung ykzwischen diesen ermittelt;d) aus der neu prognostizierten Pose χk|k-1und der Verschiebung ykwird eine korrigierte Pose χkberechnet. |
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Bibliography: | Application Number: DE202210208937 |