Prüfstandsystem und Verfahren zum Prüfen von Elektronikbauteilen

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Prüfstandsystem (100) und ein Verfahren zum Prüfen von Elektronikbauteilen (10), für eine Emulation eines Systemumfelds zum Prüfbetrieb des zu prüfenden Elektronikbauteils (10) und eine Erfassung einer Eigenschaft des zu prüfenden Elektronikbauteils (10) in Rea...

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Main Authors Winzer, Patrick, Schmitt, Alexander, Rahmoun, Yasser, Michel, Igor, Schnarrenberger, Mathias
Format Patent
LanguageGerman
Published 16.02.2023
Subjects
CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL
CONTROLLING
FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS
PHYSICS
REGULATING
TESTING
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Summary:Die vorliegende Erfindung betrifft ein Prüfstandsystem (100) und ein Verfahren zum Prüfen von Elektronikbauteilen (10), für eine Emulation eines Systemumfelds zum Prüfbetrieb des zu prüfenden Elektronikbauteils (10) und eine Erfassung einer Eigenschaft des zu prüfenden Elektronikbauteils (10) in Reaktion auf das emulierte Systemumfeld. Das Prüfstandsystem umfasst: eine Emulatorschaltung (70) mit wenigstens einem funktionalen Modul (20, 30, 40) für eine lokale Emulation einer Emulationskomponente, wobei das Systemumfeld auf einer Koordination der lokalen Emulation von wenigstens einer Emulationskomponente basiert; und ein zentrales Kontrollmodul (50) für die zentrale Koordination von durch das wenigstens eine funktionale Modul (20, 30, 40) lokal emulierten Emulationskomponenten innerhalb des Systemumfelds; wobei jedes funktionale Modul (20, 30, 40) insbesondere ein lokales Kontrollmodul (25, 35, 45) für die lokale Emulation der Emulationskomponente aufweist.
Bibliography:Application Number: DE202110121188