Prüfverfahren und Prüfsystem für säulenförmige Wabenstruktur

• Main Authors: Kurahashi, Ryota, Terahai, Takafumi, Sato, Yoshihiro
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 30.09.2021
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

Ein Verfahren zum Prüfen einer säulenförmigen Wabenstruktur umfasst die folgenden Schritte: Aufnehmen eines Musters von reflektiertem Licht von einer Endfläche mit einer Kamera und Erzeugen von Bilddaten des Musters des reflektierten Lichts; Unterscheiden von Positionsinformationen zu jeder von Zellen, die an eine Außenumfangsseitenwand angrenzen, und Zellen, die nicht an die Außenumfangsseitenwand angrenzen, basierend auf den Bilddaten des Musters des reflektierten Lichts, und Speichern der unterschiedenen Positionsinformationen in einem Speicher; Aufnehmen eines Musters von Durchlicht von der Endfläche mit der Kamera und Erzeugen von Bilddaten des Musters des Durchlichts; Messen der Stärke jedes Durchlichts aus den an die Außenumfangsseitenwand angrenzenden Zellen zum Nachweisen der Zellen mit defekten verschlossenen Abschnitten, die an die Außenumfangsseitenwand angrenzen, basierend auf den erzeugten Bilddaten des Musters des Durchlichts und den Positionsinformationen; und Messen der Stärke jedes Durchlichts aus den Zellen, die nicht an die Außenumfangsseitenwand angrenzen, zum Nachweisen der Zellen mit defekten verschlossenen Abschnitten, die nicht an die Außenumfangsseitenwand angrenzen, basierend auf den erzeugten Bilddaten des Musters des Durchlichts und den Positionsinformationen. A method for inspecting a pillar-shaped honeycomb structure includes steps of: capturing a pattern of reflected light from an end face with a camera and generating an image data of the pattern of the reflected light; distinguishing positional information of each of cells adjacent to an outer peripheral side wall and cells that are not adjacent to the outer peripheral side wall based on the image data of the pattern of the reflected light, and storing the distinguished positional information in a memory; capturing a pattern of transmitted light from the end face with the camera and generating an image data of the pattern of the transmitted light; measuring intensity of each transmitted light from the cells adjacent to the outer peripheral side wall to detect the cells having defective plugged portions that are adjacent to the outer peripheral side wall based on the generated image data of the pattern of the transmitted light and the positional information; and measuring intensity of each transmitted light from the cells that are not adjacent to the outer peripheral side wall to detect the cells having defective plugged portions that are not adjacent to the outer peripheral side wall based on the generated image data of the pattern of the transmitted light and the positional information.