Optische Analyseeinrichtung und Verfahren zum Betreiben einer optischen Analyseeinrichtung
Die vorliegende Erfindung schafft eine Spektrometereinrichtung (1) umfassend einen ersten Detektionspfad (D1), in welchem eine Spektraleinheit (1) und eine erste Detektoreinheit (DE1) angeordnet sind, wobei die Spektraleinheit (1) zwischen der Probe (P) und der ersten Detektoreinheit (DE1) angeordne...
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Format | Patent |
Language | German |
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20.01.2022
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Summary: | Die vorliegende Erfindung schafft eine Spektrometereinrichtung (1) umfassend einen ersten Detektionspfad (D1), in welchem eine Spektraleinheit (1) und eine erste Detektoreinheit (DE1) angeordnet sind, wobei die Spektraleinheit (1) zwischen der Probe (P) und der ersten Detektoreinheit (DE1) angeordnet ist; einen zweiten Detektionspfad (D2), in welchem eine zweite Detektoreinheit (DE2) angeordnet ist und eine Auswerteeinrichtung (AE), welche mit der ersten Detektoreinheit (DE1) und mit der zweiten Detektoreinheit (DE2) verbunden ist, und welche dazu eingerichtet ist in einem ersten Detektionssignal von der ersten Detektoreinheit (DE1) und in einem zweiten Detektionssignal von der zweiten Detektoreinheit (DE2) eine Signalschwankung aus einer Abstandsvariation zwischen der Probe (P) und der Spektrometereinrichtung (1) zu erkennen und bei einer Auswertung das erste Detektionssignal zu korrigieren. |
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Bibliography: | Application Number: DE202010208314 |