Verfahren und Vorrichtungen zum Durchführen von Design for Debug über eine Protokollschnittstelle

• Main Author: Molson, Philippe
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 01.10.2020
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

Es ist ein Prüfsystem zum Durchführen von Design-for-Debug(DFD)-Operationen vorgesehen. Das Prüfsystem kann einen an eine Hilfsvorrichtung gekoppelten Hostprozessor enthalten. Die Hilfsvorrichtung kann einen Protokollschnittstellenblock zum Kommunizieren mit dem Hostprozessor während eines normalen funktionalen Modus enthalten. Der Hilfschip kann ferner einen zu prüfenden Schaltkreis (CUT) und einen gehärteten DFD-Hub enthalten, der vom Hostprozessor über den Protokollschnittstellenblock gesteuert werden kann. Der DFD-Hub kann eine DFD-Auslösekomponente, eine DFD-Nachverfolgungskomponente und eine DFD-Zugriffskomponente enthalten. Der Hostprozessor kann den DFD-Hub durch Senden von Steuersignalen durch den Protokollschnittstellenblock während eines Debuggingmodus anweisen, DFD-Operationen durchzuführen. Prüfinformationen, die unter Verwendung des DFD-Hubs gesammelt wurden, können dann zurück in den Hostprozessor eingespeist werden, um dabei zu helfen, Silizium-Bring-up, eine Softwarestapeloptimierung vor der Fertigung und eine Leistungsüberwachung nach der Fertigung zu ermöglichen. A test system is provided for performing design for debug (DFD) operations. The test system includes a host processor coupled to an auxiliary device. The auxiliary device includes a protocol interface block for communicating with the host processor during normal functional mode. The auxiliary device further includes a circuit under test (CUT) and a hardened DFD hub that is controlled by the host processor via the protocol interface block. The DFD hub includes a DFD triggering component, a DFD tracing component, and a DFD access component. The host processor directs the DFD hub to perform DFD operations by sending control signals through the protocol interface block during a debugging mode. Test information gathered using the DFD hub is fed back to the host processor to help facilitate silicon bring-up, pre-production software stack optimization, and post-production performance metric monitoring.