VERFAHREN ZUM STEUERN DER HAFTUNG UNTER VERWENDUNG VON TOPOGRAFIE

• Main Authors: Straccia, Ann Marie, Haack, Larry Paul, Bollin, Shannon Christine, Peczonczyk, Sabrina Louise, Simko, Steven J, Konopka, Patricia Karen
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 03.01.2019
• Subjects: APPLYING LIQUIDS OR OTHER FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; PERFORMING OPERATIONS; PHYSICS; PROCESSES FOR APPLYING LIQUIDS OR OTHER FLUENT MATERIALS TOSURFACES, IN GENERAL; SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; TESTING; TRANSPORTING

Verfahren und Systeme zum Analyseiren der Haftung von Emaillefritten unter Verwendung der Topografie werden offenbart. Ein Verfahren beinhaltet Analysieren einer Topografie eines definierten Bereichs einer Emaillefrittenoberfläche mit einer Vielzahl von Spitzen und Bestimmen eines topografischen Parameters des definierten Bereichs auf Grundlage der Spitzenform und/oder -dichte. Der bestimmte topografische Parameter kann mit einem Schwellenwert verglichen werden. Das Verfahren kann dann Auftragen eines Klebstoffs auf die Emaillefritte und Binden der Emaillefritte an ein Substrat beinhalten, wenn der bestimmte topografische Parameter unter dem Schwellenwert ist. Die Analyse der Topografie kann unter Verwendung eines kontaktlosen Profilometers, wie etwa eines optischen Profilometer, durchgeführt werden. In einer Ausführungsform kann der topografische Parameter entwickelte Grenzflächenrauheit (Sdr) sein. Das Verfahren kann in eine Herstellungs-/Montagelinie für Fahrzeugglaskomponenten, wie etwa Windschutzscheiben oder Seitenfenster, integriert werden. Methods and systems are disclosed for analyzing the adhesiveness of enamel frits using topography. One method includes analyzing a topography of a defined area of an enamel frit surface having a plurality of peaks and determining a topographical parameter of the defined area based on peak shape and/or density. The determined topographical parameter may be compared to a threshold value. The method may then include applying an adhesive to the enamel frit and bonding the enamel frit to a substrate if the determined topographical parameter is below the threshold value. The analysis of the topography may be performed using a non-contact profilometer, such as an optical profilometer. In one embodiment, the topographical parameter may be developed interfacial roughness (Sdr). The method may be integrated into a manufacturing/assembly line for vehicle glass components, such as windshields or side windows.