VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINER HALBLEITEREINRICHTUNG

Verfahren zum Herstellen einer Halbleitereinrichtung (50), die ein erstes Bauteil (10) und ein zweites Bauteil (20), das mit dem ersten Bauteil verbunden ist, enthält, wobei das Verfahren aufweist:a) Herstellen von (Cu,Ni)6Sn5auf einer Ni-Schicht, die auf dem ersten Bauteil (12) gebildet ist, durch...

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Main Authors Take, Naoya, Kadoguchi, Takuya
Format Patent
LanguageGerman
Published 19.08.2021
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Summary:Verfahren zum Herstellen einer Halbleitereinrichtung (50), die ein erstes Bauteil (10) und ein zweites Bauteil (20), das mit dem ersten Bauteil verbunden ist, enthält, wobei das Verfahren aufweist:a) Herstellen von (Cu,Ni)6Sn5auf einer Ni-Schicht, die auf dem ersten Bauteil (12) gebildet ist, durch Schmelzen eines ersten Sn-Cu-Lötmittels (14), das 0,9 Gew.-% oder mehr Cu enthält, auf der Ni-Schicht des ersten Bauteils;b) Herstellen von (Cu,Ni)6Sn5auf einer Ni-Schicht, die auf dem zweiten Bauteil (22) gebildet ist, durch Schmelzen eines zweiten Sn-Cu-Lötmittels (24), das 0,9 Gew.-% oder mehr Cu enthält, auf der Ni-Schicht des zweiten Bauteils;c) Verbinden des ersten Bauteils und des zweiten Bauteils miteinander durch Schmelzen des ersten Sn-Cu-Lötmittels, das dem Schritt a) unterzogen wurde, und des zweiten Sn-Cu-Lötmittels, das dem Schritt b) unterzogen wurde, sodass das erste Sn-Cu-Lötmittel und das zweite Sn-Cu-Lötmittel ganzheitlich werden. A method of manufacturing a semiconductor device which includes a first member and a second member joined to the first member includes: a) producing (Cu,Ni)6Sn5 on a Ni film formed on the first member by melting a first Sn-Cu solder containing 0.9 wt % or higher of Cu on the Ni film of the first member; b) producing (Cu,Ni)6Sn5 on a Ni film formed on the second member by melting a second Sn-Cu solder containing 0.9 wt % or higher of Cu on the Ni film of the second member; and c) joining the first member and the second member to each other by melting the first Sn-Cu solder having undergone step a) and the second Sn-Cu solder having undergone step b) so that the first Sn-Cu solder and the second Sn-Cu solder become integrated.
Bibliography:Application Number: DE201610121502