Verfahren und System zur Verifikation einer elektrischen oder elektronischen Komponente

• Main Authors: Schmidt, Thomas, Fröhlich, Hans Joachim, Fink, Nikolai, Maneval, Michael
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 15.03.2018
• Subjects: ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS; MEASURING; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; PHYSICS; TARIFF METERING APPARATUS; TESTING

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verifikation von zumindest einer elektrischen oder elektronischen Komponente oder einer Gruppe von elektrischen oder elektronischen Komponenten eines Messgeräts (1) oder zur Verifikation einer physikalischen Eigenschaft des Messgeräts (1), wobei die elektrisc...