Verfahren und System zur Verifikation einer elektrischen oder elektronischen Komponente

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verifikation von zumindest einer elektrischen oder elektronischen Komponente oder einer Gruppe von elektrischen oder elektronischen Komponenten eines Messgeräts (1) oder zur Verifikation einer physikalischen Eigenschaft des Messgeräts (1), wobei die elektrisc...

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Main Authors Schmidt, Thomas, Fröhlich, Hans Joachim, Fink, Nikolai, Maneval, Michael
Format Patent
LanguageGerman
Published 15.03.2018
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Summary:Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verifikation von zumindest einer elektrischen oder elektronischen Komponente oder einer Gruppe von elektrischen oder elektronischen Komponenten eines Messgeräts (1) oder zur Verifikation einer physikalischen Eigenschaft des Messgeräts (1), wobei die elektrische oder elektronische Komponente oder die Gruppe von elektrischen oder elektronischen Komponenten unter Verwendung von zumindest einem internen Zeitgeber (2), der mit einer Taktfrequenz zeitbasierte elektrische Signale generiert und/oder Messsignale ausgibt, die eine physikalische oder chemische Prozessgröße repräsentieren, mit folgenden Verfahrensschritten: - Ermitteln der Anzahl der diskreten Zeitsignale, die innerhalb eines Zeitintervalls durch den zumindest einen internen Zeitgeber (2) bereitgestellt werden, - Ermitteln der absoluten Zeitdauer des Zeitintervalls durch eine Synchronisierung des Zeitintervalls mit einem Zeitnormal (4) und Vergleichen der Anzahl der von dem internen Zeitgeber (2) in dem Zeitintervall bereitgestellten diskreten Zeitsignale mit der erwarteten Anzahl diskreter Zeitsignale während der absoluten Zeitdauer des Zeitintervalls, - Generieren einer das Ergebnis des Vergleichs wiedergebenden Meldung. The invention relates to a method for verifying at least one electrical or electronic component or a group of electrical or electronic components of a measuring device (1) or for verifying a physical property of the measuring device (1), wherein the electrical or electronic component or the group of electrical or electronic components using at least one internal timer (2) which generates time-based electrical signals at a clock frequency and/or outputs measurement signals representing a physical or chemical process variable, having the following method steps of: - determining the number of discrete time signals provided by the at least one internal timer (2) within an interval of time, - determining the absolute duration of the interval of time by synchronizing the interval of time with a time standard (4) and comparing the number of discrete time signals provided by the internal timer (2) in the interval of time with the expected number of discrete time signals during the absolute duration of the interval of time, - generating a message describing the result of the comparison.
Bibliography:Application Number: DE201610117007