Verfahren zum Erfassen der Funktionsminderung einer organischen lichtemittierenden Anzeige und organische lichtemittierende Anzeige, die dieses Verfahren ausführt

Ein Verfahren zum Erfassen der Funktionsminderung einer organischen lichtemittierenden Anzeige enthält einen Initialisierungsschritt zum Anlegen einer Erfassungsdatenspannung an einen Gate-Knoten eines Ansteuer-TFTs und Anlegen einer Initialisierungsspannung an einen Source-Knoten des Ansteuer-TFTs,...

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Main Authors SHIN, HUNKI, OH, KILHWAN, KIM, CHANGHEE
Format Patent
LanguageGerman
Published 10.03.2016
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Summary:Ein Verfahren zum Erfassen der Funktionsminderung einer organischen lichtemittierenden Anzeige enthält einen Initialisierungsschritt zum Anlegen einer Erfassungsdatenspannung an einen Gate-Knoten eines Ansteuer-TFTs und Anlegen einer Initialisierungsspannung an einen Source-Knoten des Ansteuer-TFTs, einen Verstärkungsschritt zum Floaten des Gate-Knotens und des Source-Knotens des Ansteuer-TFTs und Anlegen eines Drain-Source-Stroms des Ansteuer-TFTs an ein organisches Element, einen Erfassungsschritt zum erneuten Anlegen der Initialisierungsspannung an den Source-Knoten des Ansteuer-TFTs, Einstellen einer Gate-Source-Spannung des Ansteuer-TFTs abhängig von einem Funktionsminderungsgrad des organischen Elements und Speichern des Drain-Source-Stroms des Ansteuer-TFTs, der durch die eingestellte Gate-Source-Spannung in einem Leitungskondensator bestimmt ist, und einen Abtastschritt zum Ausgeben einer Spannung, die in dem Leitungskondensator gespeichert ist, als eine Erfassungsspannung. A method for sensing degradation of an organic light emitting display includes an initialization step for applying a sensing data voltage to a gate node of a driving TFT and applying an initialization voltage to a source node of the driving TFT, a boosting step for floating the gate node and the source node of the driving TFT and applying a drain-to-source current of the driving TFT to an organic element, a sensing step for again applying the initialization voltage to the source node of the driving TFT, setting a gate-to-source voltage of the driving TFT depending on a degradation degree of the organic element, and storing the drain-to-source current of the driving TFT determined by the set gate-to-source voltage in a line capacitor, and a sampling step for outputting a voltage stored in the line capacitor as a sensing voltage.
Bibliography:Application Number: DE201410119670