Laser-Scanning-Mikroskop

Die Erfindung betrifft ein Laser-Scanning-Mikroskop zur Gewinnung von Objektabbildungen nach verschiedenen Beobachtungskriterien, umfassend - eine Beleuchtungs- und Detektionseinheit (BDE), einen Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang (BS, DS), ein Mikroskopobjektiv (MO), eine Scaneinrichtung mit...

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Main Authors Schwedt, Daniel, Wald, Matthias, Anhut, Tiemo, Böhme, Beate
Format Patent
LanguageGerman
Published 12.05.2016
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Summary:Die Erfindung betrifft ein Laser-Scanning-Mikroskop zur Gewinnung von Objektabbildungen nach verschiedenen Beobachtungskriterien, umfassend - eine Beleuchtungs- und Detektionseinheit (BDE), einen Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang (BS, DS), ein Mikroskopobjektiv (MO), eine Scaneinrichtung mit einer Scanoptik (SO) und mehreren Scannern (S1, S2, S3, S4), wobei - im Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang (BS, DS) Schaltspiegel (SP1, SP2, SP3) mit jeweils zwei Schaltstellungen vorgesehen sind, - jede Schaltstellung einem von mehreren verschiedenen, optisch voneinander getrennten Strahlführungspfaden zugeordnet ist und jeder Strahlführungspfad einen gesonderten Betriebsmodus definiert, und - mindestens in einem der vorgesehenen Strahlführungspfade ein Hohlspiegel (HSP) zur Abbildung eines ersten Scanners (S1) in mindestens einen weiteren Scanner (S2, S3) und umgekehrt vorhanden ist. A laser scanning microscope for the acquisition of object images according to varied observation criteria. The microscope includes an illumination and detection unit, an illumination and a detection beam, a microscope objective, a scanning device with a scanning optical component and several scanners, with switching mirrors, each mirror with two switching positions, provided in the illumination and detection beams. Each switching position is assigned to one of several different, optically separate beam paths and each beam path defines a separate operating mode. A concave mirror for imaging a first scanner into at least one more scanner and vice versa is arranged in at least one of the beam paths.
Bibliography:Application Number: DE20141017002