Screeningverfahren für Elektrolytkondensatoren

• Main Authors: LEINONEN, MARK, BEAULIEU, MARC V, MILLMAN, WILLIAM A, MILLER, MICHAEL I
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 06.03.2014
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES ORLIGHT-SENSITIVE DEVICES, OF THE ELECTROLYTIC TYPE; ELECTRICITY; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

Ein Verfahren zum iterativen Screening einer Stichprobe von Elektrolytkondensatoren, die eine vorbestimmte Nennspannung aufweisen, wird angegeben. Das Verfahren kann das Messen eines ersten Leckstroms bei einer ersten Menge von Kondensatoren, das Berechnen eines ersten mittleren Leckstroms aus den Ergebnissen und das Entfernen von Kondensatoren, die einen ersten Leckstrom aufweisen, der größer oder gleich einem ersten vorbestimmten Wert ist, aus der ersten Menge, wodurch eine zweite Menge von Kondensatoren entsteht, umfassen. Die zweite Menge kann einer Burn-In-Behandlung unterzogen werden, wobei eine Testspannung angelegt werden kann, und dann kann ein zweiter Leckstrom bei der zweiten Menge von Kondensatoren gemessen werden, und ein zweiter mittlerer Leckstrom kann berechnet werden. Kondensatoren, die einen zweiten Leckstrom aufweisen, der größer oder gleich einem zweiten vorbestimmten Wert ist, können aus der zweiten Menge entfernt werden, wodurch eine dritte Menge von Kondensatoren entsteht. Wegen diesem iterativen Screening weisen die Kondensatoren in der dritten Menge nur geringe Ausfallraten auf. A method of iteratively screening a sample of electrolytic capacitors having a predetermined rated voltage is provided. The method can include measuring a first leakage current of a first set of capacitors, calculating a first mean leakage current therefrom, and removing capacitors from the first set having a first leakage current equal to or above a first predetermined value, thereby forming a second set of capacitors. The second set can be subjected to a burn in heat treatment where a test voltage can be applied, then a second leakage current of the second set of capacitors can be measured and a second mean leakage current can be calculated. Capacitors having a second leakage current equal to or above a second predetermined value can be removed from the second set, forming a third set of capacitors. Because of such iterative screening, the capacitors in the third set have low failure rates.