System und Verfahren zur Kalibrierung eines Netzwerkanalysators und zur Charakterisierung einer Messhalterung
Ein Verfahren und ein System zur Kalibrierung eines Netzwerkanalysators anhand eines 16-Term-Fehlermodells ermittelt eine Matrix (A) mit gemessenen Streuparametern (Sm) von verschiedenen Kalibrierstandards (3) und mit zugehörigen tatsächlichen Streuparametern (Sa) der Kalibrierstandards (3) und best...
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Format | Patent |
Language | German |
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22.08.2013
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Summary: | Ein Verfahren und ein System zur Kalibrierung eines Netzwerkanalysators anhand eines 16-Term-Fehlermodells ermittelt eine Matrix (A) mit gemessenen Streuparametern (Sm) von verschiedenen Kalibrierstandards (3) und mit zugehörigen tatsächlichen Streuparametern (Sa) der Kalibrierstandards (3) und bestimmt linear-in-T-Systemfehlern ( T~ i ) zur Kalibrierung des Netzwerkanalysators (1) mittels Lösen eines linearen Gleichungssystems mit der ermittelten Matrix (A). Zum Lösen des linearen Gleichungssystems werden ein erster und ein zweiter linear-in-T-Systemfehler (k, p) jeweils frei gewählt. Bei Verwendung von reziproken Kalibrierstandards werden die bestimmten linear-in-T-Systemfehler mit dem frei gewählten ersten linear-in-T-Systemfehler ( T~ i ) oder mit einem vom ersten linear-in-T-Systemfehler (k) abhängigen korrekten zweiten linear-in-T-Systemfehler (pkor(k)) gewichtet.
A method and a system for calibrating a measuring arrangement on the basis of a 16-term error model determines a matrix (A) with measured scattering parameters (Sm) from different calibration standards (3) and with associated actual scattering parameters (Sa) of the calibration standards (3) and determines linear-in-T system errors (Ti) for the calibration of a network analyzer (1) by solving a linear equation system with the determined matrix (A). To solve the linear equation system, a first and a second linear-in-T system error (k, p) are freely selected in each case. With use of reciprocal calibration standards, the determined linear-in-T system errors are weighted with the freely selected first linear-in-T system error (Ti) or with a correct second linear-in-T system error pkor(k)) dependent upon the first linear-in-T system error (k). |
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Bibliography: | Application Number: DE201310201914 |