Tieftemperaturvorrichtung

Tieftemperaturvorrichtung (100) mit einem Tieftemperaturbehälter (101) mit mindestens einem Fixierelement (109), einer Kühleinrichtung (102), einem Probenhalter (104) im Innern des Tieftemperaturbehälters (101), an dem eine zu untersuchende Probe befestigbar ist, wobei der Probenhalter (104) über ei...

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Main Authors PHELAN, KEVIN, WERNICKE, DOREEN
Format Patent
LanguageGerman
Published 27.06.2013
Subjects
BLASTING
CHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
COLD ROOMS
COMBINED HEATING AND REFRIGERATION SYSTEMS
COOLING OR FREEZING APPARATUS NOT COVERED BY ANY OTHERSUBCLASS
HEAT PUMP SYSTEMS
HEATING
ICE-BOXES
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
LIGHTING
LIQUEFACTION SOLIDIFICATION OF GASES
MANUFACTURE OR STORAGE OF ICE
MEASURING
MECHANICAL ENGINEERING
PERFORMING OPERATIONS
PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
PHYSICS
REFRIGERATION OR COOLING
REFRIGERATORS
TESTING
TRANSPORTING
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Summary:Tieftemperaturvorrichtung (100) mit einem Tieftemperaturbehälter (101) mit mindestens einem Fixierelement (109), einer Kühleinrichtung (102), einem Probenhalter (104) im Innern des Tieftemperaturbehälters (101), an dem eine zu untersuchende Probe befestigbar ist, wobei der Probenhalter (104) über eine thermische Kopplung (106) mit der Kühleinrichtung (102) verbunden ist, die thermische Kopplung (106) zur Schwingungsentkopplung flexibel ausgeführt ist das mindestens eine Fixierelement (109) zur Schwingungsentkopplung flexibel mit dem Tieftemperaturbehälter (101) verbunden ist, der Probenhalter (104) starr mit dem mindestens einen Fixierelement (109) verbunden ist, der Tieftemperaturbehälter (101) mindestens ein Untersuchungsfenster (121) aufweist, das mindestens eine Fixierelement (109) starr mit einer Vorrichtung (131) außerhalb des Tieftemperaturbehälters (101) verbunden ist, wobei mittels der Vorrichtung (131) die Position des Probenhalters (104) relativ zu dem mindestens einen Untersuchungsfenster (121) verändert werden kann, wobei mittels der Vorrichtung (131) die Position des Probenhalters (104) relativ zu dem mindestens einen Untersuchungsfenster (121) verändert werden kann, wobei die Vorrichtung (131) die Position des mindestens einen Fixierelements (109) relativ zum Tieftemperaturbehälter (101) verändert.
Bibliography:Application Number: DE201110115303