Ein Verfahren zum Herstelllen eines Anschlussgebiets an einer Seitenwand eines Halbleiterkörpers
Ein Verfahren zur Herstellung eines Anschlussgebiets an einer Seitenwand (70) eines Halbleiterkörpers (10), aufweisend folgende Merkmale: - Bereitstellen eines Halbleiterkörpers (10), - Erzeugen von mindestens einem ersten Graben (12) an einer ersten Oberfläche (11) des Halbleiterkörpers (10) in den...
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Format | Patent |
Language | German |
Published |
10.07.2014
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