Verfahren zur Leistungssteigerung in Transistoren durch Reduzierung der Absenkung aktiver Gebiete und durch Entfernen von Abstandshaltern
Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements, wobei das Verfahren umfasst: Bilden einer schützenden Beschichtung (264L) über einem aktiven Gebiet (202A) und einer Gateelektrodenstruktur (260), die auf dem aktiven Gebiet ausgebildet ist und eine dielektrische Deckschicht (267) aufweist; Bild...
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Format | Patent |
Language | German |
Published |
04.01.2018
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