Verfahren zum Abgleich eines Messwertversatzes

• Main Authors: Scheiermann, Sergej, Bartholomeyczik, Julian
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 05.10.2023
• Subjects: GYROSCOPIC INSTRUMENTS; MEASURING; MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; NAVIGATION; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY; PHYSICS; SURVEYING; TESTING

Verfahren (300, 400) zur Bestimmung eines Versatzes von Messwerten eines mehrachsigen Richtungssensors (110) durch ein überlagertes Signal, folgende Schritte umfassend:- Aufnehmen (305) einer Vielzahl von mehrachsigen Messwerten;- Bestimmen (320, 460) einer geometrischen Figur (215, 225) als Annäherung an die Vielzahl von mehrachsigen Messwerten;- Zuordnen (430) eines aufgenommenen Messwerts zu einer von mehreren vorbestimmten Gruppen;- Verwerfen des Messwerts, falls der dem Messwert zugeordneten Gruppe bereits eine vorbestimmte Anzahl Messwerte zugeordnet ist; und - Bestimmen (320, 460) des Versatzes der Messwerte auf der Basis eines Versatzes der Figur (215, 225) gegenüber einer störungsfreien Lage der Figur (215, 225), wobei nach dem Bestimmen (320, 460) des Versatzes weitere Messwerte (305, 415) aufgenommen und den Gruppen zugeordnet werden und der Versatz (320, 460) aktualisiert wird, und wobei nach dem Bestimmen (320, 460) des Versatzes folgender weiterer Schritt durchgeführt wird:- Anpassen (410) wenigstens eines von der Anzahl der Gruppen auf einer der Messachsen, der Anzahl der vorbestimmten Messwerte pro Gruppe und der vorbestimmten Anzahl der Gruppen mit zugeordneten Messwerten. In a method for determining an offset of measured values of a multiaxial directional sensor using a superposed signal, a large number of multiaxial measured values are recorded first. Measured values, which are recorded in different orientations of the directional sensor, form a geometric figure in a coordinate system resulting from the measuring axes of the sensor, the ideal form of the geometric figure being known and the ideal center point of which being located at the origin of the measuring axes. In the case of a biaxial sensor, the geometric figure is a circle; in the case of a triaxial sensor, it is a sphere around the origin. The superposition caused by the interference is reflected in that the center point of the geometric figure is shifted in relation to the origin of the measuring axes. The offset is measured by determining this shift.