Integrierte elektronische Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren einer kapazitiven Last

• Main Authors: BALLERSTEIN, JENS, ARNOLD, MATTHIAS, LANDOULSI, AYMEN
• Format: Patent
• Language: German
• Published: 14.06.2012
• Subjects: BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY; ELECTRICITY; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; PULSE TECHNIQUE; TESTING

Integrierte elektronische Vorrichtung, wobei die Vorrichtung Folgendes aufweist: eine Lastdetektionsstufe zum Detektieren einer kapazitiven Last (Cext) an einer Kontaktstelle (P), die so ausgeführt ist, dass sie eine alternierende, rechteckförmige, periodische Eingangsspannung (Vin) mit einer Frequenz (fCLK) erzeugt, die basierend auf dem zu erwartenden Kapazitätswert (C) der Kontaktstelle (P) definiert ist und die an die Kontaktstelle (P) der integrierten elektronischen Vorrichtung anzulegen ist, wobei die Eingangsspannung (Vin) eine erste Flanke und eine zweite Flanke und eine vorbestimmte Zeitspanne (tPULS) zwischen der ersten Flanke und der zweiten Flanke hat, wobei die Lastdetektionsstufe ferner so ausgeführt ist, dass sie überwacht, ob der Spannungspegel (Vpad) an der Kontaktstelle (P) in Reaktion auf die Eingangsspannung (Vin) einen unteren Schwellenwert (VTHL) und einen oberen Schwellwert (VTHH) überschreitet, und ein entsprechendes Ausgangssignal (Vout) bereitstellt, welches zwischen einem logisch hoch- und einem logisch niedrig-Pegel in Übereinstimmung mit den Überschreitungen der entsprechenden Schwellenwerte (VTHL, VTHH) alterniert, und nur...