Detecting device for detecting damage of solar cell by photoluminescence, has radiation source which is formed to produce electromagnetic jets, particularly in visible wavelength area

• Main Author: GRUNOW, PAUL HARTMUT
• Format: Patent
• Language: English; German
• Published: 10.06.2009
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

The detecting device (1) has radiation sources (3,5) which are formed to produce electromagnetic jets (10), particularly in the visible wavelength area. The radiation source is provided on a solar cell surface of the solar cell and emits to irradiate in an extended solar cell level. A damage detection unit (17) is operatively connected at the input side with a detector (9) and is formed to receive an image data set and to detect the mechanical damage in a semiconductor material of the solar cell, particular a scratch (32,32'), a tear (33,34,34') or a break (35,36,36'). An independent claim is included for a method for detecting a damage of a solar cell. Die Erfindung betrifft eine Erfassungsvorrichtung zum Erfassen von wenigstens einer Beschädigung einer Solarzelle mittels Photolumineszenz. Die Erfassungsvorrichtung weist wenigstens eine Strahlenquelle auf, wobei die Strahlenquelle ausgebildet ist, elektromagnetische Strahlen, insbesondere Lichtstrahlen, zu erzeugen und auf eine zum Bestrahlen vorgesehene, sich in einer Solarzellenebene erstreckende Solarzellenfläche der Solarzelle auszusenden. Die Erfassungsvorrichtung weist auch eine Kamera mit einem Detektor auf, wobei der Detektor ausgebildet ist, von der Solarzellenfläche ausgesendete, in Abhängigkeit von den elektromagnetischen Strahlen erzeugte Lumineszenzstrahlen zu erfassen. Der Detektor ist ausgebildet, wenigstens einen die Solarzelle, insbesondere die Solarzellenfläche, in wenigstens zwei Dimensionen repräsentierenden Bilddatensatz zu erzeugen. Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass die Erfassungsvorrichtung eine Beschädigungserfassungseinheit aufweist, welche eingangsseitig mit dem Detektor wirkverbunden und ausgebildet ist, den wenigstens einen Bilddatensatz zu empfangen und wenigstens eine insbesondere mit bloßem Auge unsichtbare, mechanische Beschädigung durch einen Riss, einen Kratzer oder einen Bruch in einem Halbleitermaterial der Solarzelle zu erfassen. Die Beschädigungserfassungseinheit ist ausgebildet, einen Ausgangsdatensatz zu erzeugen, der die wenigstens eine Beschädigung, insbesondere die Art und/oder einen Beschädigungsgrad der ...