Semiconductor wafer, is provided with work test certificate e.g. certificate of compliance, in digital form on data medium, where certificate includes data for distinctive identity such as explicit number, which characterizes wafer

• Main Authors: SCHWENK, HELMUT, POSUWAJLO, HENRYK, ULLRICH, KLAUS
• Format: Patent
• Language: English; German
• Published: 05.10.2006
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; DATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FORADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORYOR FORECASTING PURPOSES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRICITY; PHYSICS; SEMICONDUCTOR DEVICES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE,COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTINGPURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR

The wafer is provided with a work test certificate e.g. certificate of compliance (Coc), in digital form. The certificate is provided as marking on the wafer and includes data for distinctive identity such as explicit number, which characterizes the wafer. The certificate is stored on a data medium preferably on a central computer in a computer network, and is delivered to a buyer of the wafer in an electronic manner. An independent claim is also included for a method of manufacturing and delivering of semiconductor wafers with work test certificates. Gegenstand der Erfindung ist eine Halbleiterscheibe sowie eine Mehrzahl von Halbleiterscheiben, die zu einem Produktionslos gehören, wobei jede einzelne Halbleiterscheibe oder jedes Produktionslos mit einem Werksprüfzeugnis in digitaler Form ausgestattet ist, das auf einem Datenträger gespeichert vorliegt und auch auf elektronischem Weg an einen Käufer der Halbleiterscheibe übermittelt werden kann. DOLLAR A Die Erfindung bezieht sich auch auf ein Verfahren zur Herstellung und Auslieferung von Halbleiterscheiben mit Werksprüfzeugnis.