Production of an optical lens with an aspheric surface, e.g. for an astronomical telescope, rotates the substrate on a table for measurement at rotary positions of the reference and symmetry axes in relation to the table axis

• Main Authors: WEIDENHOF, VOLKER, SCHILLKE, FRANK
• Format: Patent
• Language: English; German
• Published: 14.06.2006
• Subjects: MEASURING; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS; OPTICS; PHYSICS; TESTING; TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES; TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR

To produce an optical lens, the substrate is placed on a rotating table turning around an axis, to be rotated into a number of settings for a measurement at each position. The position of the substrate reference axis is computed in relation to the rotary axis and the position is computed of a symmetry axis of the aspheric optical working surface in relation to the table rotary axis. The working data field is computed according to the two measurements related to the table axis to work the lens. Es wird ein Verfahren zum Herstellen eines optischen Elements vorgeschlagen, welches umfaßt Anordnen des optischen Elements in einem Strahlengang eines Interferometers, Durchführen wenigstens einer interferometrischen Messung an dem optischen Element und Gewinnen eines ein Meßergebnis der wenigstens einen interferometrischen Messung repräsentierenden Meßdatenfeldes, Bereitstellen einer Mehrzahl von Funktionen, wobei eine jede Funktion von wenigstens einem Parameter abhängt, Berechnen optimaler Parameter für die Mehrzahl von Funktionen, derart, daß eine Summe von durch die Funktionen bei den optimalen Parametern repräsentierten Funktionsdatenfeldern das Meßdatenfeld approximiert, Berechnen eines Bearbeitungsdatenfeldes in Abhängigkeit von dem Meßdatenfeld und den durch die Funktionen bei den optimalen Parametern repräsentierten Funktionsdatenfeldern und Bearbeiten des optischen Elements in Abhängigkeit von dem Bearbeitungsdatenfeld.