Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen wenigstens eines LED-Strangs
Eine Prüfvorrichtung für wengistens einen LED-Strang enthält: eine Spannungsquelle (10, 12), mittels der an eine Parallelschaltung aus einem Prüfwiderstand und den LED-Strang wahlweise wenigstens eine Kaltprüfspannung oder eine Warmprüfspannung legbar ist, und eine Auswerteeinrichutng (12), die den...
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Format | Patent |
Language | German |
Published |
24.11.2005
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Edition | 7 |
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Summary: | Eine Prüfvorrichtung für wengistens einen LED-Strang enthält: eine Spannungsquelle (10, 12), mittels der an eine Parallelschaltung aus einem Prüfwiderstand und den LED-Strang wahlweise wenigstens eine Kaltprüfspannung oder eine Warmprüfspannung legbar ist, und eine Auswerteeinrichutng (12), die den bei anliegender Kaltprüfspannung fließenden Kaltprüfstrom erfasst und einen Fehler diagnostiziert, wenn der Kaltprüfstrom überschwellig von einem Sollwert abweicht. Eine Prüfeinrichtung (28) enthält ein in Reihe zu dem Prüfwiderstand (24) liegendes Schaltelement und eine mit dem wenigstens einen LED-Strang verbundene Fehlerschaltung, die während der Warmprüfung eine überschwellige Abweichung eines durch den wenigstens einen LED-Strang fließenden Stroms von einem vorbestimmten Wert erfasst und bei überschwelliger Abweichung das Schaltelement (30) öffnet.
A test device for at least one LED strip contains: a voltage source, by way of which a cold test voltage or a warm test voltage can be applied to a parallel circuit formed of a test resistor and the LED strip, and an evaluation unit which records the cold test current flowing when a cold test voltage is present and diagnoses an error if the cold test current deviates from a required value by an above-the-threshold amount. A test device contains a switching element connected in series with the test resistor and an error circuit connected to the at least one LED strip, which during the warm testing records an over-the-threshold deviation of a current flowing through the at least one LED strip from a pre-specified value and for an over-the-threshold deviation opens the switching element. |
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Bibliography: | Application Number: DE20041027676 |