Verfahren und eine Vorrichtung zur System- und/oder Prozeßüberwachung
The invention relates to a method and a device for system and/or process monitoring linked to a measuring device, which determines/monitors at least one process variable of a medium (12). The aim of the invention is to disclose a method and a device, which provide information relating to the current...
Saved in:
Main Author | |
---|---|
Format | Patent |
Language | German |
Published |
13.06.2002
|
Edition | 7 |
Subjects | |
Online Access | Get full text |
Cover
Loading…
Summary: | The invention relates to a method and a device for system and/or process monitoring linked to a measuring device, which determines/monitors at least one process variable of a medium (12). The aim of the invention is to disclose a method and a device, which provide information relating to the current and future functional capacity of a measuring device or individual components of said measuring device (1). To achieve this, according to the method, the temperature values (T) of the medium (12) are directly or indirectly determined and a trend analysis, which relates to the thermal stress of the measuring device (1) or to the thermal stress of individual components of said measuring device (1), is carried out, based on the temperature values (T) of the medium (3) thus determined, or based on derivations of the determined temperature values (3) of the medium.
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Vorrichtung zur System- und/oder Prozeßüberwachung im Zusammenhang mit einem Meßgerät, das zumindest eine Prozeßgröße eines Mediums (12) bestimmt/überwacht. DOLLAR A Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung vorzuschlagen, die es ermöglichen, Aussagen hinsichtlich der gegenwärtigen und zukünftigen Funktionalität eines Meßgeräts bzw. einzelner Komponenten des Meßgeräts (1) bereitzustellen. DOLLAR A Die Aufgabe wird hinsichtlich des Verfahrens dadurch gelöst, daß die Temperaturwerte (T) des Mediums (12) direkt oder indirekt ermittelt werden und daß anhand der ermittelten Temperaturwerte (T) des Mediums (3) bzw. anhand der Ableitungen der ermittelten Temperaturwerte des Mediums (3) eine Trendanalyse hinsichtlich der thermischen Belastung des Meßgerätes (1) bzw. der thermischen Belastung einzelner Komponenten des Meßgerätes (1) durchgeführt wird. |
---|---|
Bibliography: | Application Number: DE20001060706 |