Optical sensor system for analysing relative movement between measurement rod and light source

The optical sensor system sends the beam from an illumination source (5) through an imaging measure (1) and then to a detector sensor (4). When there is relative movement between the measure and the sensor the beam is analysed as an angle or distance. The source and the sensor are arranged on the sa...

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Main Author RODI, ANTON
Format Patent
LanguageEnglish
German
Published 11.07.2002
Edition7
Subjects
MEASURING
MEASURING ANGLES
MEASURING AREAS
MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
PHYSICS
TESTING
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Summary:The optical sensor system sends the beam from an illumination source (5) through an imaging measure (1) and then to a detector sensor (4). When there is relative movement between the measure and the sensor the beam is analysed as an angle or distance. The source and the sensor are arranged on the same side of the measure. On the other side of the measure is a deflection system (3) with at least two reflective surfaces. The system deflects the beam at the side of the measure into a reception beam which runs through the measure and to the detection sensor. Es wird ein optisches Sensorsystem beschrieben, bei dem der Strahl einer Beleuchtungsquelle durch einen Abbildungsmaßstab geschickt wird, dann auf einen Empfangssensor trifft und ausgewertet wird. DOLLAR A Die Beleuchtungsquelle und der Empfangssensor sind auf einer Seite des Abbildungsmaßstabs angeordnet. Der seitlich vom Abbildungsmaßstab verlaufende Strahl der Beleuchtungsquelle wird auf der gegenseite des Abbildungsmaßstabs mittels spiegelnder Fläche in einen durch den Abbildungsmaßstab verlaufenden und zum Empfangssensor gerichteten Empfangsstrahl umgelenkt.
Bibliography:Application Number: DE2000159040