Analytic system with Raman microscope end electron microscope

• Main Authors: HANIČINEC MARTIN, JIRUŠE JAROSLAV, HOLLRICHER OLAF
• Format: Patent
• Language: Czech; English
• Published: 26.08.2015
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; COLORIMETRY; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS; ELECTRICITY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; MEASURING; PHYSICS; RADIATION PYROMETRY; TESTING

Systém využívající množství analytických zařízení, jako jsou elektronový mikroskop (4), Ramanův mikroskop (6), iontový tubus (20) a mikroskop se skenovací sondou (24) pro analýzu vzorku (3) současnou, na sebe navazující nebo se vzájemnou korelací analýz provedených různými zařízeními ve stejném místě či oblasti vzorku (3). Systém využívá spojení optického objektivu (11) Ramanova mikroskopu (6) s manipulátorem (17) objektivu čímž podstatně zkracuje dobu potřebnou na provedení analýz Ramanovým mikroskopem (6) spolu s dalšími přístroji a to při zachování vysoké kvality snímaných signálů srovnatelné se samostatně stojícími analytickými zařízení. In the present invention, there is disclosed a system employing a plurality of analytic devices such as electron microscope (4), Raman microscope (6), ion tube (20) and a microscope with a scanning probe (24) for sample (3) analysis through simultaneous, continuous or cross-correlation of analyses carried out by various devices at the identical point or area of the sample (3). The system employs connection of an optical objective (11) of a Raman microscope (6) with an objective manipulator (17) to thereby substantially shortening time needful for carrying out analyses by the Raman microscope (6) along with other instruments and in particular t maintenance of high quality of the scanned signals, which is comparable with that of alone standing analytic devices.