一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置

• Format: Patent
• Language: Chinese
• Published: 15.04.2022
• Subjects: CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRICITY; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; PRINTED CIRCUITS; TESTING

本实用新型公开了一种用于测试CMOS集成电路的功耗电容的装置，涉及CMOS集成电路技术领域，包括底座，所述底座的顶部固定安装有支撑块，所述底座的顶部设置有散热机构，所述底座的顶部设置有夹紧机构，所述散热机构包括有电机、风机和第一滑杆，所述电机固定安装在底座的顶部，所述风机设置在底座的上方，所述第一滑杆设置在底座的上方，所述夹紧机构包括有转杆、第二滑杆和第一滑块，所述转杆活动安装在底座的顶部。本实用新型通过电机、风机、第一滑杆、移动块、齿条、齿轮和稳定块的相互配合下，调整风机的位置，对CMOS集成电路的功耗电容的测试装置进行均匀的散热，避免测试时受到温度的影响，导致测试结果不准确，具有能够均匀散热的优点。