一种QFN芯片测试治具

本实用新型公开了一种QFN芯片测试治具，包括底座、上压板、导向板、下压板、测试针，测试时，QFN芯片经导向板上的芯片槽放入上压板上，QFN芯片的导电焊盘与测试针上的锥形测试部接触，将测试针通电后即刻完成测试，由于底座、上压板、下压板的材质为工程塑料，具有良好的绝缘性能，提高测试的安全性，同时，采用分体式结构的上压板和不锈钢材质的导向板，一方面，避免长时间与QFN芯片外壳之间磨损导致的整体更换的情况，另一方面，独立设计的上压板和导向板便于单个更换。该装置结构简单，采用分体式结构，便于各部件的更换，提高了使用率，同时，采用不锈钢材质的导向板，有效避免磨损，提高整体使用寿命，极大的降低了生产成本。...

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Format Patent
LanguageChinese
Published 25.02.2022
Subjects
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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Summary:本实用新型公开了一种QFN芯片测试治具，包括底座、上压板、导向板、下压板、测试针，测试时，QFN芯片经导向板上的芯片槽放入上压板上，QFN芯片的导电焊盘与测试针上的锥形测试部接触，将测试针通电后即刻完成测试，由于底座、上压板、下压板的材质为工程塑料，具有良好的绝缘性能，提高测试的安全性，同时，采用分体式结构的上压板和不锈钢材质的导向板，一方面，避免长时间与QFN芯片外壳之间磨损导致的整体更换的情况，另一方面，独立设计的上压板和导向板便于单个更换。该装置结构简单，采用分体式结构，便于各部件的更换，提高了使用率，同时，采用不锈钢材质的导向板，有效避免磨损，提高整体使用寿命，极大的降低了生产成本。
Bibliography:Application Number: CN202122478629U