ROCK SAMPLE PREPARATION METHOD BY USING FOCUSED ION BEAM FOR MINIMIZING CURTAIN EFFECT

• Main Authors: ENEZI, SULTAN, AL-OTAIBI, MOHAMMED, AL-YOUSEF, ALI ABDALLAH, CHA, DONG
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 31.01.2023
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

A process for the preparation and imaging of a sample of rock from an oil and gas reservoir is provided. A sample of reservoir rock may be obtained, such as from a core sample obtained using a core sampling tool inserted in a wellbore extending into an oil and gas reservoir. A photoresist may be deposited on the surface of reservoir rock sample to form a homogenous layer. The photoresist-coated surface of the reservoir rock sample may be imaged using a focused ion beam (FIB). The photoresist protects the pores and other surface features of the rock from damage or implantation by the FIB ion beam and thus minimizes the curtain effect in the resulting images. La présente invention concerne un procédé de préparation et d'imagerie d'un échantillon de roche provenant d'un réservoir de pétrole et de gaz. Un échantillon de roche de réservoir peut être obtenu, par exemple, à partir d'un échantillon de carotte obtenu à l'aide d'un outil d'échantillonnage de carotte inséré dans un puits de forage s'étendant dans un réservoir de pétrole et de gaz. Une résine photosensible peut être déposée sur la surface de l'échantillon de roche de réservoir pour former une couche homogène. La surface revêtue de résine photosensible de l'échantillon de roche de réservoir peut être imagée à l'aide d'un faisceau ionique focalisé (FIB). La résine photosensible protège les pores et d'autres caractéristiques de surface de la roche contre un endommagement ou une implantation par le faisceau ionique FIB et minimise ainsi l'effet rideau sur les images résultantes.