TECHNOLOGIES FOR IN-SITU CALIBRATION OF MAGNETIC FIELD MEASUREMENTS

• Main Authors: SHAH, FAISAL FAROOQ, ROBERSON, BRIAN, LI, WENQUAN, WU, HSU-HSIANG
• Format: Patent
• Language: English; French
• Published: 21.06.2018
• Subjects: DETECTING MASSES OR OBJECTS; EARTH DRILLING; EARTH DRILLING, e.g. DEEP DRILLING; FIXED CONSTRUCTIONS; GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; MEASURING; MINING; OBTAINING OIL, GAS, WATER, SOLUBLE OR MELTABLE MATERIALS OR ASLURRY OF MINERALS FROM WELLS; PHYSICS; TESTING

Systems, methods, and computer-readable media for in-situ calibration of magnetic field measurements. In some examples, a method can involve generating a magnetic field via a magnetic field source that is coupled to a downhole tool. The magnetic field source can be located within a fixed distance from one or more sensors coupled to the downhole tool. The method can also involve obtaining respective field measurements of the known magnetic field from the one or more sensors, and comparing the respective field measurements from the one or more sensors with respective reference measurements previously obtained from the one or more sensors to yield respective comparisons. The method can then involve determining, based on the respective comparisons, a respective sensitivity drift for each of the one or more sensors. L'invention concerne des systèmes, des procédés et des supports lisibles par ordinateur destinés à l'étalonnage in situ de mesures de champ magnétique. Dans certains exemples, un procédé peut consister à générer un champ magnétique par l'intermédiaire d'une source de champ magnétique qui est couplée à un outil de fond de trou. La source de champ magnétique peut être située sur une plage de distance fixe par rapport à un ou plusieurs capteurs couplés à l'outil de fond de trou. Le procédé peut également consister à obtenir des mesures de champ respectives du champ magnétique connu à partir du ou des capteurs, et à comparer les mesures de champ respectives provenant du ou des capteurs à des mesures de référence respectives obtenues précédemment à partir du ou des capteurs pour produire des comparaisons respectives. Le procédé peut ensuite consister à déterminer, en fonction des comparaisons respectives, une dérive de sensibilité respective pour le ou chaque capteur.